白光扫描干涉光学系统

    WSI是利用白光(多波长)的短相干长度,具有纳米级高分辨率的非接触式3D测量仪器。

    非接触式 3D 形状测量
    用于测量微表面形状和厚度形状的 3D 方法
    当使用白光时,形成干涉条纹的间隔很短,可以进行精确的高度测量。

    可能需要各种 2D 和 3D 图像来获取各种数据。
    因此,Fresnel 一直基于多年的专业知识按订单制造各种 2D 和 3D 光学模块。
    更多详细资料,欢迎联系我们或者点击询盘。


  • 产品参数

    WSI是利用白光(多波长)的短相干长度,具有纳米级高分辨率的非接触式3D测量仪器。

    非接触式 3D 形状测量
    用于测量微表面形状和厚度形状的 3D 方法
    当使用白光时,形成干涉条纹的间隔很短,可以进行精确的高度测量。

    可能需要各种 2D 和 3D 图像来获取各种数据。
    因此,Fresnel 一直基于多年的专业知识按订单制造各种 2D 和 3D 光学模块。
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