专为大靶面线扫相机设计
最高可匹配12K5.2um或者16K3.5um相机
光阑可调
半导体检测
电子元器件量测
FPD检测
FTC2.0X-115IA-12K62 | |||
同轴 | - | 景深（um） | 61 |
倍率(X) | 2.0X | 远心度（<degree） | 0.04 |
工作距离（mm） | 115 | 光学畸变（%） | 0.04 |
分辨率（um） | 4 | 相机传感器尺寸 | 12K5.2um |
数值孔径（物侧） | 0.084 | 接口 | M72 |
有效F/# | 11.9 | I/O（mm） | 500 |
地址：潍坊市高新区高新大厦1319室
邮箱：kevin0727@fresnel-china.com
